近日，廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司聯(lián)合中國(guó)半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)創(chuàng)新聯(lián)盟（CSTIA）完成設(shè)備測(cè)評(píng)，旗下快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱憑借在半導(dǎo)體芯片環(huán)境可靠性測(cè)試中的優(yōu)異表現(xiàn)，正式斬獲 “半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備推薦產(chǎn)品" 認(rèn)證，成為西南地區(qū)獲此認(rèn)證的精密溫變測(cè)試設(shè)備品牌，為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)國(guó)產(chǎn)化測(cè)試提供新選擇。

此次認(rèn)證測(cè)評(píng)中，該設(shè)備在三大核心指標(biāo)上表現(xiàn)突出：一是溫變精度，15℃/min 高速溫變速率下，試驗(yàn)艙內(nèi)各點(diǎn)位溫差≤0.8℃，遠(yuǎn)超半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)≤1.5℃的標(biāo)準(zhǔn)；二是溫域適配，-85~150℃寬溫域可覆蓋芯片封裝、車載半導(dǎo)體等多場(chǎng)景測(cè)試需求，其中 - 55℃~125℃常用區(qū)間控溫偏差穩(wěn)定在 ±0.3℃；三是抗干擾設(shè)計(jì)，設(shè)備內(nèi)置電磁屏蔽層，在半導(dǎo)體晶圓測(cè)試環(huán)境中，可避免外界信號(hào)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的干擾，數(shù)據(jù)重復(fù)性達(dá)標(biāo)率達(dá) 99.2%。

據(jù)了解，為適配半導(dǎo)體場(chǎng)景，廣皓天還對(duì)設(shè)備進(jìn)行定制化升級(jí)：針對(duì)芯片微小樣品測(cè)試，優(yōu)化試驗(yàn)艙內(nèi)樣品固定裝置，支持多組芯片同步測(cè)試；搭載智能測(cè)試軟件，可與半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（ATE）聯(lián)動(dòng)，自動(dòng)生成溫變 - 電性能關(guān)聯(lián)報(bào)告。某半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)企業(yè)測(cè)試部經(jīng)理反饋：“使用該設(shè)備后，芯片高低溫可靠性測(cè)試周期從 15 天縮短至 10 天，測(cè)試數(shù)據(jù)與進(jìn)口設(shè)備吻合度達(dá) 98%。"