生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

快速溫變高低溫箱，車規(guī)芯片高溫老化

制冷系統(tǒng)

*的制冷系統(tǒng)是實(shí)現(xiàn)快速降溫和高低溫循環(huán)的基礎(chǔ)，尤其對(duì)于高溫測(cè)試后需要快速降至低溫的環(huán)節(jié)。

• 復(fù)疊式制冷技術(shù)： 為滿足車規(guī)測(cè)試的寬溫區(qū)（如-40℃至+150℃）和快速降溫要求，普遍采用由兩級(jí)壓縮機(jī)組成的復(fù)疊式制冷系統(tǒng)，確保在高溫段也能擁有*的制冷能力。

• 高效節(jié)能設(shè)計(jì)： 采用熱氣旁通閥等節(jié)能技術(shù)，在高溫老化保溫階段，智能調(diào)節(jié)系統(tǒng)負(fù)載，避免壓縮機(jī)頻繁啟停，既節(jié)能又延長核心部件壽命。

• 穩(wěn)定可靠的壓縮機(jī)： 核心壓縮機(jī)選用國際品牌（如Copeland、Bitzer），確保在長期高強(qiáng)度運(yùn)行下的穩(wěn)定性和可靠性。

快速溫變高低溫箱，車規(guī)芯片高溫老化

加濕系統(tǒng)

雖然純高溫老化測(cè)試可能不需加濕，但集成加濕系統(tǒng)使設(shè)備能執(zhí)行更全面的溫濕度復(fù)合測(cè)試。

• 應(yīng)對(duì)復(fù)雜測(cè)試場(chǎng)景： 車規(guī)芯片也需要通過如THB（高溫高濕反偏）等測(cè)試來驗(yàn)證其抗潮濕腐蝕能力。加濕系統(tǒng)可精確控制濕度，模擬雨天、高濕環(huán)境。

• 高精度控制： 采用淺槽式或鍋爐式蒸汽加濕，配合PID控制，能快速、精確地實(shí)現(xiàn)設(shè)定的濕度范圍（如20%~98%RH），滿足相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

產(chǎn)品性能

針對(duì)車規(guī)芯片測(cè)試，設(shè)備性能有特定要求。

• 高溫性能： 高溫上限通常要求達(dá)到+150℃甚至更高，以滿足高級(jí)別車規(guī)芯片的測(cè)試需求。

• 快速的溫度轉(zhuǎn)換率： 高效的制冷與加熱系統(tǒng)協(xié)同工作，可實(shí)現(xiàn)每分鐘5℃至15℃甚至更快的線性溫變速率，大幅提高測(cè)試效率。

• 溫度均勻性： 在高溫條件下，工作室內(nèi)各點(diǎn)的溫度均勻性需嚴(yán)格控制在±2.0℃以內(nèi)，確保每顆被測(cè)芯片都處于相同的應(yīng)力環(huán)境下。

• 長期運(yùn)行穩(wěn)定性： 設(shè)備必須能夠支持長達(dá)1000小時(shí)以上的不間斷連續(xù)老化測(cè)試，運(yùn)行。

滿足標(biāo)準(zhǔn)

設(shè)備的設(shè)計(jì)與測(cè)試流程嚴(yán)格遵循車規(guī)及電子行業(yè)核心標(biāo)準(zhǔn)。

• 車規(guī)芯片核心標(biāo)準(zhǔn)： AEC-Q100（集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證）。

• 環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)： IEC 60068-2-1/.2/.14（低溫、高溫、溫度變化），GB/T 2423.1/.2（中國國家標(biāo)準(zhǔn)）。

• 汽車電子系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)： ISO 16750（道路車輛-電氣和電子設(shè)備的環(huán)境條件和測(cè)試）。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

• 測(cè)試效率倍增： 快速溫變能力大幅縮短測(cè)試周期，加快產(chǎn)品上市速度。

• 數(shù)據(jù)精準(zhǔn)可靠： 高精度的控制系統(tǒng)確保測(cè)試條件的一致性，生成的數(shù)據(jù)真實(shí)可信，為質(zhì)量判斷提供堅(jiān)實(shí)依據(jù)。

• 一機(jī)多用，集成化高： 一臺(tái)設(shè)備可完成高溫老化、快速溫變、溫度循環(huán)、恒溫恒濕等多種測(cè)試，節(jié)省投資和實(shí)驗(yàn)室空間。

• 超高可靠性： 專為長期、嚴(yán)苛的工業(yè)環(huán)境設(shè)計(jì)，確保老化測(cè)試項(xiàng)目能夠順利完成。

應(yīng)用領(lǐng)域

• 核心應(yīng)用： 車規(guī)級(jí)MCU（微控制器）、SoC（系統(tǒng)級(jí)芯片）、功率半導(dǎo)體（IGBT、SiC MOSFET）、傳感器、電源管理芯片（PMIC）的可靠性驗(yàn)證與老化篩選。

• 延伸應(yīng)用： 同樣適用于其他汽車電子部件，如ECU（發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元）、BMS（電池管理系統(tǒng)）等模塊級(jí)產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選。

注意事項(xiàng)

• 負(fù)載規(guī)劃： 老化測(cè)試時(shí)，芯片自身會(huì)發(fā)熱（負(fù)載發(fā)熱）。必須精確計(jì)算總發(fā)熱量，確保其在設(shè)備制冷/加熱能力的允許范圍內(nèi)，否則會(huì)嚴(yán)重影響測(cè)試結(jié)果。

• 科學(xué)擺放： 老化板（Load Board）的設(shè)計(jì)與芯片在工作室內(nèi)的擺放必須保證氣流暢通，避免阻擋風(fēng)道，導(dǎo)致局部過熱。

• 定期維護(hù)： 由于老化測(cè)試時(shí)間長、強(qiáng)度大，必須嚴(yán)格執(zhí)行定期維護(hù)計(jì)劃，包括清潔冷凝器、檢查制冷劑壓力、更換加濕用水等，以防意外中斷。

• 安全操作： 測(cè)試結(jié)束后，需等待箱內(nèi)溫度降至安全范圍后再開門，防止高溫燙傷和因急速冷卻對(duì)芯片或設(shè)備造成損傷。