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首頁 > 產(chǎn)品中心 > 快速溫變高低溫測試箱>快溫變高低溫實驗箱 > TEB-600PF快溫變高低溫實驗箱,半導(dǎo)體芯片應(yīng)力測試
快溫變高低溫實驗箱,半導(dǎo)體芯片應(yīng)力測試
簡要描述:

廣東快速溫變試驗箱高精度航空航天領(lǐng)域則用于模擬飛行器在高空環(huán)境中的溫度變化,測試零部件的適應(yīng)能力??鞙刈兏叩蜏貙嶒炏洌雽?dǎo)體芯片應(yīng)力測試

型號:TEB-600PF

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更新時間:2026-03-02

價格:62800

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快溫變高低溫實驗箱,半導(dǎo)體芯片應(yīng)力測試
品牌廣皓天產(chǎn)地國產(chǎn)
升溫時間士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士溫度波動范圍士0,3'C(-20~+100'C)±0.5*C(+100.1~+150*C)+2.5%RH
溫度范圍-70°C~+150°C外形尺寸 115x185x218
制冷方式機械式雙級壓縮制冷方式(氣冷冷凝器或水冷換熱器)

生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

快溫變高低溫實驗箱,半導(dǎo)體芯片應(yīng)力測試

一、半導(dǎo)體芯片應(yīng)力測試用途

該設(shè)備專為半導(dǎo)體芯片、芯片封裝、IC模塊、晶圓等產(chǎn)品的溫度應(yīng)力測試設(shè)計,通過模擬快速溫變、高低溫環(huán)境,施加溫度應(yīng)力,驗證芯片在高低溫循環(huán)、劇烈溫變過程中的機械穩(wěn)定性、電氣性能可靠性,提前暴露芯片封裝開裂、焊點脫落、芯片失效、性能漂移等隱患,適配芯片研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)檢全流程,滿足半導(dǎo)體行業(yè)相關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn),為芯片質(zhì)量管控提供核心數(shù)據(jù)支撐。

快溫變高低溫實驗箱,半導(dǎo)體芯片應(yīng)力測試

二、技術(shù)參數(shù)

溫度范圍:-70℃~+150℃(可定制-80℃~+200℃,適配高功率芯片測試);溫變速率:5℃/min、10℃/min、15℃/min線性可調(diào)(空載),負(fù)載狀態(tài)下穩(wěn)定保持≥5℃/min;溫度均勻度:≤±2℃(芯片測試區(qū)域精準(zhǔn)控溫);溫度波動度:≤±0.5℃;內(nèi)箱容積:50L~408L(可定制小型專用腔體,適配芯片小批量測試);升溫時間:常溫→+150℃約25min,降溫時間:常溫→-70℃約50min;電源:AC380V 3P 50Hz;安全標(biāo)準(zhǔn):符合GB/T 2423.1/2/22、JEDEC半導(dǎo)體測試標(biāo)準(zhǔn);控制精度:溫度分辨率0.01℃,程序控制誤差≤±0.3℃。

三、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)

1.  箱體結(jié)構(gòu):外殼采用冷軋鋼板靜電噴塑,耐腐蝕、抗干擾;內(nèi)膽為SUS304不銹鋼,光滑易清潔,無雜質(zhì)污染,適配芯片潔凈測試需求;高密度聚氨酯保溫層,有效鎖溫,減少能耗,避免箱內(nèi)溫度波動。2.  測試腔體:定制小型測試托盤,可固定芯片、晶圓,防止測試過程中位移;預(yù)留標(biāo)準(zhǔn)測試接口,方便連接芯片測試儀器,實現(xiàn)溫變與電氣性能同步檢測。3.  送風(fēng)系統(tǒng):頂部強對流循環(huán)風(fēng)道,搭配低噪音風(fēng)機,確保箱內(nèi)溫場均勻,無局部溫差,避免芯片局部應(yīng)力不均。4.  安全結(jié)構(gòu):獨立電氣控制柜,布線規(guī)范,防電磁干擾(適配芯片精密測試);配備門開報警、超溫保護(hù)、漏電保護(hù)、壓縮機過載保護(hù),保障設(shè)備與芯片安全。5.  操作結(jié)構(gòu):嵌入式7英寸觸摸屏,操作面板簡潔,可快速設(shè)置測試參數(shù),適配實驗室高效測試需求。

四、溫度控制系統(tǒng)

采用工業(yè)級高精度溫度控制器,中文操作界面,簡單易上手;支持程序控制與定值控制雙模式,可編輯120組測試程序,每組99段溫變曲線,支持循環(huán)測試、階梯溫變,適配芯片不同應(yīng)力測試場景;搭載PT100鉑金電阻傳感器,采樣響應(yīng)迅速,精準(zhǔn)捕捉溫度變化,反饋具備PID智能調(diào)節(jié)算法,自動匹配加熱、制冷功率,實現(xiàn)快速溫變與精準(zhǔn)控溫,避免溫度過沖損傷芯片;支持?jǐn)?shù)據(jù)實時顯示、存儲、USB導(dǎo)出,可追溯測試全過程數(shù)據(jù),滿足芯片測試溯源要求;內(nèi)置超溫、傳感器故障報警功能,及時止損,保護(hù)芯片與設(shè)備。

五、制冷系統(tǒng)

采用二元復(fù)疊式制冷系統(tǒng),搭配品牌壓縮機,制冷強勁、運行穩(wěn)定,噪音低,適配實驗室安靜環(huán)境;使用環(huán)保制冷劑(R404A+R23),無環(huán)境污染,且降溫速率穩(wěn)定,可快速達(dá)到深低溫環(huán)境,滿足芯片低溫應(yīng)力測試需求;核心部件(冷凝器、干燥過濾器、電子膨脹閥)均采用優(yōu)質(zhì)品牌產(chǎn)品,抗老化、故障率低,延長設(shè)備使用壽命;具備壓縮機延時啟動、高低壓保護(hù)、過熱保護(hù)功能,避免制冷系統(tǒng)損壞;支持風(fēng)冷/水冷兩種散熱方式,可根據(jù)實驗室安裝環(huán)境靈活選擇,確保制冷系統(tǒng)長期穩(wěn)定運行。

六、應(yīng)用領(lǐng)域

核心應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè),涵蓋:半導(dǎo)體芯片(邏輯芯片、功率芯片、存儲芯片)、芯片封裝件、IC模塊、晶圓、半導(dǎo)體傳感器、車載芯片、工業(yè)芯片等產(chǎn)品的溫度應(yīng)力測試;同時適配科研機構(gòu)、半導(dǎo)體研發(fā)企業(yè)、芯片生產(chǎn)廠家、第三方檢測機構(gòu),用于芯片研發(fā)階段的性能驗證、生產(chǎn)過程的質(zhì)量管控、出廠前的合格檢測,以及芯片可靠性老化測試,助力企業(yè)提升芯片產(chǎn)品質(zhì)量與穩(wěn)定性。




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